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INRA
24, chemin de Borde Rouge –Auzeville – CS52627
31326 Castanet Tolosan cedex - France

Dernière mise à jour : Mai 2018

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UMR EEF - Ecologie et Ecophysiologie Forestières

          www.nancy.inra.fr/eef

Pôle Microscopie et microanalyses (EEF)

MEB-W à pression contrôlée (Leo-Zeiss, Oxford Instruments, Gatan, Ifg)

meb w

Microscope Electronique à balayage (MEB-W) à pression contrôlée équipé de :

- détecteurs d’électrons pour l’imagerie dans les deux modes (électrons rétrodiffusés, électrons secondaires en mode pression contrôlée, électrons secondaires en mode vide secondaire)
- spectromètres d'analyse des rayons X à sélection d'énergie (EDS-SDD 80mm2) et à dispersion de longueur d'onde (WDS-3cristaux + cristal spécifique azote),
- module de cryopréparation et cryo-observation (-120 °C), platine à effet Peltier (-50°C/+50°C)
- générateur de rayons X intégré à la chambre (analyses chimiques par µfluorescence)

Cet équipement est dédié à la réalisation d’observations à grande résolution et la micro-analyse minérale (à l’échelle du grandissement) d'échantillons de nature variée principalement issus du domaine biologique végétal et/ou forestier.

MEB-FEG (Zeiss, Oxford Instruments, Leica)

MEB-FEG

- détecteurs d’électrons pour l’imagerie dans les deux modes (électrons rétrodiffusés, électrons secondaires en mode pression contrôlée, électrons secondaires en mode vide secondaire)
- détecteur haute résolution Inlens
- détecteur d’électrons en transmission (STEM)
- spectromètres d'analyse des rayons X à sélection d'énergie (EDS-SDD 80mm2)
- module de cryopréparation et cryoobservation (-120 °C), platine à effet Peltier (-50°C/+50°C)

Cet équipement sera dédié à la réalisation d’observations à haute résolution et basse tension de l’extrême surface d’échantillons biologiques essentiellement végétaux dans de multiples modes (pression contrôlée, vide secondaire, imagerie en transmission, imagerie haute résolution d’échantillons cryo-fixés…) avec possibilité de micro-analyses X (cartographies élémentaires).